Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"Kelvin force microscopy (KFM)"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Electrostatic assembly of alumina nanoparticles on nanocrystalline diamond films
 Verveniotis, Elisseos ; Kromka, Alexander ; Rezek, Bohuslav
We apply atomic force microscope for local electrostatic charging of oxygen-terminated nanocrystalline diamond (NCD) thin films deposited on silicon, to induce electrostatically driven self-assembly of colloidal alumina nanoparticles into micro-patterns. The NCD films have sub-100 nm thickness and 60% relative sp2 phase content. We characterize charge contrast and stability in air, fluorocarbon oil and water by Kelvin force microscopy. We discuss factors influencing the charging process and demonstrate that the contrast of more than ± 1 V is needed to induce selfassembly of the nanoparticles via coulombic and polarization forces.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English